Journée technique ASTE-VALEO "Prise en compte de la CEM dans la fiabilité des systèmes complexes", le 7 novembre 2017 à CRETEIL


 

 

L’ASTE a organisé le 7 novembre 2017 à CRETEIL, en partenariat avec la société VALEO une journée technique
 

"Prise en compte de la Compatibilité ElectroMagnétique
dans la fiabilité des systèmes complexes".

 


PROGRAMME DE LA JOURNEE

 

9h00 - 9h30   Accueil des participants
9h30 - 9h45     Présentation de l’ASTE et du programme de la journée (ASTE et VALEO)

9h45 - 10h15
 
Le projet collaboratif GAM-PME (METEXO).
Un guide d’aide interactif à la mesure en environnement électromagnétique industriel pour les PME-PMI

10h15 - 10h45
 
Impact du design CEM sur la fiabilité et sureté de fonctionnement (EMITECH)

10h45 - 11h15
 
Pause

11h15 - 11h45
 
Projet collaboratif européen PETER (Pan-European Training, research and education network
on Electromagnetic Risk management) (VALEO)

11h45 - 12h15
 
Prise en compte des facteurs de vieillissement dans la stratégie CEM système (Airbus Safran Launcher)

12h15 - 12h45
 
Application des chambres à brassage de mode dans l’industrie (UTBM)

12h45 - 14h00
 
Déjeuner

14h00 - 14h30
 
Détermination de la diaphonie antre plusieurs harnais complexes d’un avion (SAFRAN Electrical Power)

14h30 - 16h00
 
Visite des moyens CEM de VALEO

16h00 - 16h30
 
Retour en salle pour debriefieng et clôture de la journée

 

Environ 25 personnes ont assisté à cet évènement.

Après un accueil par les organisateurs (Frédéric LAFON, expert CEM et David DELAUX, expert senior en fiabilité chez VALEO), Jean-Paul PRULHIERE (METEXO), Secrétaire Général de l’ASTE, a présenté l'association et souligné l’importance de l’échange des savoirs dans le contexte actuel.

Les exposés techniques de la journée ont débuté par un exposé de Jean-Paul PRULHIERE sur un outil gratuit d’aide à la conception de type simulation 0D-1D (GAM-PME : Guide d’Aide interactif à la Mesure en environnement électromagnétique industriel pour les PMEPMI) développé dans le cadre d’un projet collaboratif piloté par l’ASTE et financé par la DGE.

Daniel DAUZON d’EMITEC a ensuite montré de manière très didactique l’impact du design CEM sur la fiabilité et la sûreté de fonctionnement et résumé les règles de bonne pratique à appliquer.

Priscilla FERNANDEZ-LOPEZ de VALEO a décrit les objectifs du projet collaboratif européen PETER (PAN EUROPEAN TRAINING, RESEARCH AND EDUCATION NETWORK ON ELECTROMAGNETIC RISK MANAGEMENT) : Formation de doctorants sur le développement de systèmes électroniques qui maintiennent la fiabilité et la sécurité. Soumis en janvier 2017, il sera représenté début 2018.

Olivier MAURICE d’Airbus Safran Launcher a présenté une nouvelle approche probabiliste permettant de prendre en compte les facteurs de vieillissement dans la stratégie CEM au niveau d’un système complexe (lanceur de satellites).

Ces exposés ont été suivis par deux applications industrielles concrètes :

  • La première, par Béatrice BOURIOT de l’UTBM, a montré les capacités des chambres à brassage de mode dans l’industrie pour les essais de susceptibilité, d’immunité et d’émission rayonnée.
  • La seconde, par Charles JULLIEN de SAFRAN Electrical Power, a décrit l’outil numérique basé sur un process industriel et sur la théorie de la topologie électromagnétique appliquée aux câbles pour déterminer la diaphonie entre plusieurs harnais complexes d’un avion.

Chacune des présentations a été suivie de nombreuses questions de la part des auditeurs.

Jean-Paul PRULHIERE a remercié les intervenants pour la qualité de leurs exposés, et les personnels de VALEO qui ont participé à l’organisation de cette journée et contribué à son succès.

Il a indiqué la création d’un nouveau groupe de travail thématique dédié à la CEM au sein de l’ASTE dans lequel ce type d’échange devrait se poursuivre et s’amplifier. Il répondra aux besoins dans ce domaine compte tenu de l’électrification croissante des véhicules et de l’intégration de l’informatique embarquée (maitrise de la collaboration des courants forts et faibles).

La journée s’est terminée par la visite des moyens CEM du site VALEO.

Manifestations

Matinée AFNOR sur les normes volontaires de la série NF/XP X50-144 - 18 janvier à 9h30

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